講演情報

[1P099]THz 偏光計測を利用した金属樹脂界面の残留応力評価法の基礎検証

*髙橋 大樹1、王 鑠涵1、神保 太一1、立岡 正明2、村田 尚義2、宇野 歩武3、吉田 一朗3、梶原 優介1 (1. 東京大学、2. 富士電機株式会社、3. 法政大学)

キーワード:

残留応力、THz波、偏光、金属樹脂界面


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