[C-12] 集積回路

15:00 〜 15:15学術奨励賞候補キャリアエクスプローラー

[C-12-06] シリコン基板裏面電磁的故障注入攻撃におけるチップ内部電圧変動の評価

◎△長谷川 陸宇¹、門田 和樹¹、弘原海 拓也¹、三木 拓司¹、永田 真¹ (1. 神戸大学)

キーワード：

電磁的故障注入攻撃、オンチップモニタ回路