[A-19] ハードウェアセキュリティ

11:15 〜 11:30学術奨励賞候補対象

[A-19-10] 電磁波照射時のチップ内部電圧変動の電源供給パスの違いによる評価

◎長谷川 陸宇¹、弘原海 拓也^1,2、門田 和樹^1,2、永田 真¹ (1. 神戸大学、2. 株式会社セカフィー)

キーワード：

電磁的故障注入攻撃、電源供給パス、オンチップモニタ回路

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