講演情報

[B-10A_B-13-12]フェムト秒レーザ描画によるLPFG型モード依存損失等化デバイスの製造誤差耐性の調査

◎△木村 巧1、佐藤 孝憲1、和田 雅樹2、山下 陽子1,2、岩屋 太郎2、松井 隆2、中島 和秀2、齊藤 晋聖1 (1. 北大、2. NTT)

キーワード:

長周期ファイバグレーティング、モード分割多重、数モードファイバ、光ファイバ、フェムト秒レーザ

2LPモード多重伝送用モード依存損失(MDL)等化デバイスとして,フェムト秒レーザによる局所的な屈折率変調を用いた長周期ファイバグレーティング(LPFG)を検討している.本報告では,変調半径および変調位置の誤差がデバイス特性に与える影響を評価し,両設計ともにフェムト秒レーザ加工の製造精度の範囲内で十分な誤差耐性が見込まれることを示す.