講演情報

[B-4-37]GHz 帯における模擬DUT 内部へのEMC ストレス比較評価

〇伊藤 寛輝1、荒井 篤志2、杉本 久憲3、鵜生 高徳4、矢野 佑典5 (1. (株)アイシン、2. (株)東陽EMCエンジニアリング、3. 一般社団法人KEC関西電子工業振興センター、4. (株)デンソーEMCエンジニアリングサービス、5. 名古屋工業大学)

キーワード:

ISO 11452-2、ISO 11452-11、車載電子部品、ストレス比較、GHz帯、イミュニティ試験、EMS

閲覧にはパスワードが必要です