2026年電子情報通信学会ソサイエティ大会
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15:30 〜 15:45
学術奨励賞候補対象
[B-4-42]
DDR4フライバイ・トポロジーにおける実験計画法を用いた波形品質劣化要因の定量評価
◎永原 航世
1
、濱本 悟朗
2,1
、三宅 裕翔
1
、吉田 征弘
1
、豊田 啓孝
1
(1. 岡山大、2. 日立)
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キーワード:
フライバイ・トポロジー、実験計画法、波形品質、DDR、直交表、分散分析
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