[SO2] ショートオーラルセッション

[IS2-10] CFIと濃度特徴に基づく金属表面未知画像の異常部位抽出

*舟橋 琢磨¹、野村 真希¹、青木 公也¹、輿水 大和¹、加藤 久幸²、山村 良太²、池野 純²、小口 幸成²、福澤 満保² (1.中京大学、2.YKK)

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