第26回画像センシングシンポジウム
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[IS1-28]
不良品検出のための畳み込みニューラルネットワークとサポートベクタマシン設計支援ツール
*永田 寅臣
1
、中島 健斗
1
、三木 康平
1
、渡辺 桂吾
2
(1. 山口東京理科大学、2. 岡山大学)
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