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[2A06]Evaluation of neutron detection characteristics using long wavelength neutron for BGaN detectors grown on Si and QST substrate

*Kosuke Ando1, Masahiro Hino2, Yoshio Honda3, Hiroshi Amano3, Kota Matsumoto4, Norikazu Ito4, Taketoshi Tanaka4, Ken Nakahara4, Toru Aoki1, Takayuki Nakano1 (1. Shizuoka Univ., 2. Kyoto Univ., 3. Nagoya Univ., 4. ROHM Co., Ltd.)

Keywords:

BGaN,Neutron semiconductor detector,Neutron imaging,Compound semiconductor

大きな中性子捕獲断面積を有するB原子が構成元素に含まれるBGaNが新規中性子検出材料として提案されている。これまでの研究では、作製が容易であるが大口径化が難しいサファイア基板上にBGaNデバイスの作製を行い、中性子検出特性を評価していた。本研究では大口径化に着目し、大口径化が容易なSiおよびQST基板上にBGaNデバイスの作製を実施した。作製したデバイスの中性子検出特性をC3-1-2ポート(JRR-3)にて評価した。

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