Presentation Information
[P2024]市販GC-MS装置のための分子イオン計測用アタッチメントの新展開：GC-IA(QMS)イオン源
○Yuji Mishima1, Motoaki Saito1, Kenichi Tonokura2, Makiko Fujii3, Takahisa Tsugoshi4 (1. 神戸工業試験場, 2. 東大院新領域, 3. 横浜国大院環境情報, 4. 産総研)
Keywords:
イオン付着イオン化法,フラグメントレスイオン化,IA/MSユニット,装置開発