[2PY01-30] 一般ポスター-1

[P2024] 市販GC-MS装置のための分子イオン計測用アタッチメントの新展開：GC-IA(QMS)イオン源

○三島 有二¹、斎藤 元明¹、戸野倉 賢一²、藤井 麻樹子³、津越 敬寿⁴ (1. 神戸工業試験場, 2. 東大院新領域, 3. 横浜国大院環境情報, 4. 産総研)

キーワード：

イオン付着イオン化法、フラグメントレスイオン化、IA/MSユニット、装置開発