[20a-A202-1~9] 17.3 Layered materials

11:45 AM - 12:00 PM JST(2:45 AM - 3:00 AM UTC)

[20a-A202-9] Thickness identification of MXene thin flake by optical imaging

〇Yasuyuki Sainoo¹, Md Nasiruddin², Tsuyoshi Takaoka¹, Saidur Rahman³, Tadahiro Komeda^1,2 (1.IRAM, Tohoku Univ., 2.Chem, Tohoku Univ., 3.Sunway University,)

Keywords:

2D material,MXene

二次元（2D）材料はその厚さに依存した特有の電子的、光学的および機械的特性を示すため、非常に注目されている。二次元材料の特性を研究進めるための重要なステップの 1 つは、電子、光学、およびその他の特性に大きな影響を与える厚さを特定することが挙げられ、より迅速に、簡便な方法で対象の膜厚を識別することが求められている。本発表では、剥離法を用いてSiC基板上に転写した単独のMXene薄片に対して行った光学顕微鏡によるイメージングによる薄片の厚さを識別する方法について報告する。