[20a-A303-1~8] FS.1 Focused Session "AI Electronics"

9:45 AM - 10:00 AM JST(12:45 AM - 1:00 AM UTC)

[20a-A303-3] Optimization of Experimental Parameters for Fabrication of Atomic Junction Using Quantum Annealing Machine

〇Haruka Ezawa¹, Moe Shimada¹, Daisuke Tsukayama¹, Jun-ichi Shirakashi¹ (1.Tokyo Univ. Agr. & Tech.)

Keywords:

Quantum Annealing,Feedback-Controlled Electromigration,Combinatorial Optimization

量子アニーリングマシンはイジングモデルの基底状態を探索する物理実験装置であり、様々な分野での応用が期待されている。これまで我々は、古典コンピュータ上に実装したイジングマシンを用いて原子接合の作製手法であるFeedback-Controlled Electromigration(FCE)法での実験パラメータの最適化と原子接合の作製を行ってきた。今回は、量子アニーリングマシンを用いてFCE法での実験パラメータの探索と適用スケジュール最適化を実行した。