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[20a-C401-11]Process Investigation for Optical Waveguide of GaAs using Etching Mask of Al2O3

〇Yudai Isahaya1, Chishu Mori1, Yuki Tsuji1, Syohei Lin1, Taegyu Woo1, Taro Itatani2, Takeyosi Sugaya2, Joji Maeda1, Takeru Amano2 (1.Tokyo Univ. of Science, 2.AIST)

Keywords:

Atomic Layer Deposition,Optical waveguide,GaAs

データセンターの拡充と高度化が進み、光電変換機能を担う光トランシーバーを、光実装基板内に取り込むCPO(Co-Packaged Optics)と呼ばれる新世代の方式[1]の検討が進んでいる。化合物半導体であるGaAsは高速信号処理が可能という観点から、携帯電話など高周波信号を扱う通信機器に多く使用されている[2]。これまで我々は、ALD成膜のAl2O3をエッチングマスクとして用いたSiエッチングプロセスを進めてきた[3]。今回我々は、ALD成膜したAl2O3エッチングマスクを用いたGaAs導波路エッチングプロセスの検討を行った。