[21a-P05-1~8] 6.6 Probe Microscopy

[21a-P05-6] Development of a frequency-modulation atomic-force-microscope potentiometry (1):Measurement of electrical potential distribution in the attractive regime

〇Soichiro Hamao¹, Shuto Tanimura¹, Ryo Abe¹, Manish Pandey¹, Hiroaki Benten¹, Masakazu Nakamura¹ (1.NAIST)

Keywords:

Frequency-modulation atomic-force-microscope,Potentiometry,Measurement of electrical potential distribution

非接触かつタンパク質のように柔らかい分子でも高空間分解能で表面像を観察可能な周波数変調原子間力顕微鏡(FM-AFM)に対して、導電性探針と超高入力インピーダンスボルテージフォロア回路から構成される電位分布測定機能を付与した周波数変調原子間力顕微鏡ポテンショメトリ(FM-AFMP)装置の開発を進めている。本研究では、金薄膜に様々な周波数の交流電圧を加えながら、引力領域（非接触状態）で高さ像と電位像を同時計測した。