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[21p-D903-16]Chemical lift off rutile Sn1-xGexO2 epitaxial thin films

〇Tomohito Obata1, Hao Chen1, Yo Nagashima2, Daichi Oka1, Yasushi Hirose1 (1.Tokyo Metropolitan Univ., 2.Univ. of Tokyo)

Keywords:

epitaxial thin films,freestanding thin films,rutile

ルチル型Sn1-xGexO2(SGO)はバンドギャップを3.7-4.7 eVの範囲で制御可能な超ワイドギャップ半導体で、紫外光エレクトロニクスデバイスやパワーエレクトロニクスデバイスへの応用が期待されている。このような材料を基板から剥離し、転写できればデバイス構造の自由度が広がり、フレキシブル化などの展開も期待できる。本研究ではVO2を犠牲層に用いたケミカルリフトオフ法によるSGO薄膜の自立膜化を試みた。