Presentation Information
[21p-D903-16]Chemical lift off rutile Sn1-xGexO2 epitaxial thin films
〇Tomohito Obata1, Hao Chen1, Yo Nagashima2, Daichi Oka1, Yasushi Hirose1 (1.Tokyo Metropolitan Univ., 2.Univ. of Tokyo)
Keywords:
epitaxial thin films,freestanding thin films,rutile
ルチル型Sn1-xGexO2(SGO)はバンドギャップを3.7-4.7 eVの範囲で制御可能な超ワイドギャップ半導体で、紫外光エレクトロニクスデバイスやパワーエレクトロニクスデバイスへの応用が期待されている。このような材料を基板から剥離し、転写できればデバイス構造の自由度が広がり、フレキシブル化などの展開も期待できる。本研究ではVO2を犠牲層に用いたケミカルリフトオフ法によるSGO薄膜の自立膜化を試みた。