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[16a-A22-5]1440 h Continuous Operation of Diamond MOS Field Effect Transistors

〇Tomoki Shiratsuchi1, Niloy Chandra Saha1, Toshiyuki Oishi1, Makoto Kasu1 (1.Saga Univ.)
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Keywords:

Diamond,Stress measurement,MOSFET

ダイヤモンドは5.47 eVのバンドギャップを持つ半導体で, 次世代パワー半導体として期待されている. 我々は前回, ダイヤモンドMOSFETを作製し, 劣化の無い190時間のDC連続動作と, 100時間のAC連続動作を報告したが, 今回は更に長時間のDC連続動作を行った.
現在(1440時間)もDCストレス試験を継続しているが, 劣化無く動作している. 以上より, 我々のダイヤモンドMOSFETが実用デバイスとして長時間動作に耐えうることを示した.

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