[18a-B4-1~10] 6.6 Probe Microscopy

10:45 AM - 11:00 AM JST(1:45 AM - 2:00 AM UTC)

[18a-B4-8] Improvement response characteristics of bias modulation mode scanning ion conductance microscopy with capacitance compensation pipette

〇Hitoshi Inomata¹, Kenta Nakazawa¹, Toshi Nagata², Hideya Kawasaki², Osamu Hoshi³, Futoshi Iwata¹ (1.Shizuoka Univ., 2.Hamamatsu Univ. School of Medicine, 3.Tokyo Medical and Dental Univ.)

Keywords:

scanning ion conductance microscopy

バイアス変調モードでの走査型イオン伝導顕微鏡（SICM）において容量補償用ピペットを用いることで測定時間を短縮化する手法を開発した．バイアス変調モードでは，ピペット壁より発生する容量成分により測定時間が長期化する．そこで，容量補償用ピペットを用いて差動検出することで容量補償し，測定時間を短縮化した．また，本手法は外部からの容量結合ノイズも相殺できるため直流電圧によるSICMにおいても優位性も示した．