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[20p-A31-7]Evaluation of F6-TCNNQ monolayer deposition on WSe2

〇Kensho Matsuda1, Takuya Kojima1, Yuto Noguchi1, Mengnan Ke1, Shohei Kumagai2, Toshihiro Okamoto2, Nobuyuki Aoki1 (1.Chiba Univ., 2.Tokyo Tech Univ.)

Keywords:

Transition Metal Dichalcogenides,layered material,F6-TCNNQ

これまでの研究でWSe2上へのF6-TCNNQ成膜によってWSe2に対するp型ドーピング効果が確認されている.F6-TCNNQ成膜状況の不均一性はキャリア密度の違いを生みFET特性に影響を及ぼすものの評価がなされていなかった.本研究ではF6-TCNNQ成膜時とその後の真空アニール条件による成膜状況についてAFMによる表面観察とFET特性評価をもとに, F6-TCNNQ単分子層形成について議論する.

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