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[20p-A31-7]WSe2上におけるF6-TCNNQ単分子層形成評価

〇松田 健生1、小島 拓也1、野口 裕士1、柯 梦南1、熊谷 翔平2、岡本 敏宏2、青木 伸之1 (1.千葉大院、2.東工大院)
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キーワード:

遷移金属ダイカルコゲナイド(TMDC)、層状物質、F6-TCNNQ

これまでの研究でWSe2上へのF6-TCNNQ成膜によってWSe2に対するp型ドーピング効果が確認されている.F6-TCNNQ成膜状況の不均一性はキャリア密度の違いを生みFET特性に影響を及ぼすものの評価がなされていなかった.本研究ではF6-TCNNQ成膜時とその後の真空アニール条件による成膜状況についてAFMによる表面観察とFET特性評価をもとに, F6-TCNNQ単分子層形成について議論する.

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