[23a-12B-1~11] 3.1 Basic optics and frontier of optics (merged with formerly 3.2 Equipment optics and materials)

9:45 AM - 10:00 AM JST(12:45 AM - 1:00 AM UTC)

[23a-12B-4] Development of polarization-sensitive wavefront analyzer

〇Toshitaka Wakayama¹, Akane Zama¹, Yudai Higuchi¹, Yuta Takahashi¹, Kohei Aizawa¹, Takeshi Higashiguchi² (1.Saitama Med. Univ., 2.Utsunomiya Univ.)

Keywords:

Polarization sensitive wavefront analyzer,Polarization measurement,Wavefront measurement

我々は、独自技術の偏光制御マイクロリターダレンズアレイを用いて、偏光と波面の同時検出を実証してきた。しかし、光学素子の性能から計測精度に課題があった。本研究では、偏光計測の校正方法に疑似逆行列を用い、楕円率 ±0.01、方位角1.0°の計測精度が得た。波面計測は光強度の重心を考慮し、25 nmの分解能を達成した。偏光と波面の同時計測では4種類の構造光の偏光と波面の2次元分布を計測したので、これらの結果を報告する。