[23p-1BB-1~18] 12.2 Characterization and Materials Physics

4:30 PM - 4:45 PM JST(7:30 AM - 7:45 AM UTC)

[23p-1BB-11] Electrical properties of precisely size-controlled Cu_1.8S nanoplates

〇Haru Tanaka¹, Dongbao Yin¹, Eiji Tsuchihata¹, Ryosuke Nitta¹, Seiichiro Izawa¹, Masaki Saruyama², Toshiharu Teranishi², Yutaka Majima¹ (1.Tokyo Tech., 2.Kyoto Univ.)

Keywords:

semiconductor,Electron beam lithography,Nanocrystal

電子線リソグラフィによって作製したPtナノギャップ電極に、六角柱構造を有する、対辺距離57 nm、厚さ7 nmのCu_1.8Sナノプレートを導入し、電気測定を行った。
真空低温プローバーを用いて測定した、Cu_1.8Sナノプレートの電気特性を報告する。