Presentation Information
[25p-12P-11]Cryogenic evaluation of Silicon-vacancy centers in nanodiamonds created by ion implantation
〇(DC)Konosuke Shimazaki1, Kazuki Suzuki1, Kengo Sakamoto1, Yudai Okashiro1, Hiroshi Abe2, Takeshi Ohshima2,3, Hideaki Takashima1,4, Shigeki Takeuchi1 (1.Kyoto Univ., 2.QST, 3.Tohoku Univ., 4.CIST)
Keywords:
Single photon emitter,Silicon-vacancy center,nanodiamonds
光量子情報デバイスへの応用の観点から、シリコン空孔(SiV)中心内包ナノダイヤモンドが注目されている。高効率なSiV中心内包ナノダイヤモンド作製のために、我々はナノダイヤモンドにSiイオンを注入し、真空高温アニールを行う方法を開発し、室温で細い線幅を観測することに成功した。今回、イオン注入によって作製したSiV中心内包ナノダイヤモンドについて、極低温下で分光器限界の線幅を観測したので報告する。