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[7p-N307-9]Investigation of CT Formation Depth at Donor/Acceptor Interface Utilizing Rotary Kelvin Probe

〇(M1)Kaito Akizuki1, Mana Kameyama1, Chihaya Adachi1,2 (1.OPERA, Kyushu Univ., 2.I2CNER, Kyushu Univ.)

Keywords:

Organic semiconductor,Charge transfer

有機薄膜積層CT構造は、キャリア輸送界面でのトラップ形成を抑制でき、さらにCT界面へ直接キャリアを注入できるため、高導電特性等の優れた特徴を有する。しかしながら、CTによって生成されるキャリア数やキャリアの蓄積・拡散挙動の実態は不明瞭である。そこで、本研究ではCuPc/F16CuPc界面に焦点 を当て、回転型Kelvin Probeを用いた解析により、界面におけるCT形成深さについて議論した。