Presentation Information
[8p-P01-22]Investigation of an Easy Evaluation Approach for Thermoelectric Characteristics of Semiconductor Materials
Syunsuke Sawai1, 〇Atsushi Utsumi1, Yuichi Ashida1, Ippei Ishikawa1, Shuji Kiyohara1 (1.NIT, Maizuru College)
Keywords:
semiconductor,hot probe method
半導体工学では，不純物半導体の種類としてp型とn型があることを学習する．しかしながら，実際のシリコン(Si)基板を見比べても，p型とn型の違いはわからない．本研究では大学や高専などの電気電子系の実験室であれば，どこにでもあるハンダごてとテスタを用いたホットプローブ法を用いて，Si基板のpn判定を試みた．また，この簡易的な測定方法を用いてSi基板の熱電特性(熱起電力)の評価を試みたので報告する．