[8p-P11-1~13] 23.1 Joint Session N "Informatics"

[8p-P11-10] Image Analysis of Polarized Light Microscopy Using Convolutional Neural Networks

〇Hirotaka Manaka¹, Honda Soichiro¹, Yoko Miura² (1.Kagoshima Univ., 2.NIT, Suzuka College)

Keywords:

Convolutional neural network,Birefringence Imaging,Stress-induced ferroelectricity

本発表では, 温度変化に伴って連続的に取得された複屈折画像に対し, 偏光状態の温度依存性の情報も保持したまま解析する新たな手法を提案する。