Presentation Information
[9a-N303-3]Electronic and Magnetic States of Insulator/Co2MnSi Interfaces Studied by
Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy
〇Shigenori Ueda1, Yuichi Fujita1, Yuya Sakuraba1 (1.NIMS)
Keywords:
half-metal,hard X-ray photoelectron spectroscopy,interface
絶縁体/Co2MnSi界面の電子状態と磁気状態をバルク領域のCo2MnSiと比較するために、SPring-8 BL15XUにてX線全反射を利用したHAXPES測定(hv = 5.95 keV, dE = 140 meV)を室温にて行った。全反射条件で界面近傍を、非全反射条件でバルク領域の磁気状態を磁気円二色性HAXPESから測定した結果、界面近傍でのCoとMnの磁化はバルク領域の0.77倍になっていることが明らかとなった。この磁化の減少は、界面における磁気モーメント間の交換相互作用の減少に伴うスピン波励起で説明できる。