Presentation Information
[9p-N304-14]Towards Utility-Scale Error Mitigation via Qubit Reuse:Optimizing Experimental Parameters for Fabrication of Au Atomic Junction
〇Takumi Kanezashi1, Daisuke Tsukayama1, Juncheng Wang1, Mio Kawanabe1, Jun-ichi Shirakashi1, Tetsuo Shibuya2, Hiroshi Imai2 (1.Tokyo Univ. Agr. & Tech., 2.Univ. Tokyo)
Keywords:
Variational Quantum Eigensolver,Gate-Based Quantum Computer,NISQ Device
これまで我々は、FCE法における実験パラメータ探索を組合せ最適化問題として定式化し、イジングマシンおよび量子アニーラ、ゲート型量子計算機を用いて実験パラメータの最適化を行ってきた。今回は、使用する物理量子ビット数を削減可能なQubit-Reuseを導入し、エラー率の低い量子ビットを選択することで、NISQデバイス上でのFCE法における実験パラメータ最適化の求解精度向上を検討した。