[14a-K204-1~6] Advanced measurement for organic semiconductor and Metal halide perovskite devices

9:00 AM - 9:10 AM JST(12:00 AM - 12:10 AM UTC)

[14a-K204-1] Advanced Measurement for Organic Semiconductor and Metal Halide Perovskite Devices, Opening address

〇Masatoshi Yanagida¹ (1.NIMS)

Keywords:

Organic semiconductor,Perovskite,Advanced measurement

有機薄膜や金属ハライドペロブスカイト薄膜など有機系、ハイブリッド系の薄膜材料を用いた太陽電池や発光素子の研究が進んでいます。これら薄膜の構造や特性（エネルギー準位、電荷寿命や電荷移動等）などデバイス性能に関わる情報として電子顕微鏡、X線回折、仕事関数測定、高速分光などの計測手法が用いられています。一方で、有機系やハイブリッド系材料の計測中の劣化や解析の複雑さにも依存して、計測から機構解明をし、新材料や高効率デバイスの開発に展開していくには十分とは言えない状況です。本シンポジウムでは各最先端計測における研究者の発表と議論を通して、計測をより深く理解し、より高効率な有機薄膜やペロブスカイトのデバイス開発に繋げたいと考えています。