[14a-K204-1~6] Advanced measurement for organic semiconductor and Metal halide perovskite devices

9:10 AM - 9:40 AM JST(12:10 AM - 12:40 AM UTC)

[14a-K204-2] Scanning electron microscope characterization of perovskite solar cells

〇Naoki Suyama¹, Ryousuke Ishikawa¹, Makoto Konagai¹ (1.Tokyo City Univ.)

Keywords:

perovskite solar cells,SEM scanning electron microscope,cross-sectional ion milling

走査型電子顕微鏡（SEM）はペロブスカイト太陽電池（PSC）の研究開発において、形態観察だけでなく、機能評価に広く活用できる。SEMによる界面計測は一般に割断面が用いられるが、多くの課題がある。本発表では、フィルム基板にも適用できる平滑で広域な断面作製が可能なイオン研磨法を紹介し、PSC断面の電位コントラストでの高抵抗領域検出、EBICによる内部電界分布、そしてPVK膜表面のCLによる粒界偏析及び結晶性評価について報告する。