Presentation Information
[11p-N304-3]Dopant activation in high-Sn-composition Ge1-xSnx layers by pulsed laser annealing
〇Taehan KIM1, Shigehisa Shibayama1, Ryoji Katsube1, Noritaka Usami1,2,3, Mitsuo Sakashita1, Masashi Kurosawa1, Osamu Nakatsuka1,2 (1.Nagoya Univ., 2.IMaSS, Nagoya Univ., 3.InFuS, Nagoya Univ.)
Keywords:
Pulsed Laser Annealing,Germanium-Tin,Dopant activation
高Sn組成Ge1-xSnxは次世代CMOSの高移動度チャネル材料として期待されているが,ドーパント活性化時のSn析出が課題である.本講演では,Pイオン注入した高Sn組成(約13%)Ge1-xSnx層に対してパルスレーザーアニール(PLA)を適用し,再結晶化およびドーパント活性化挙動を調査した.イオン注入深さおよびPLA条件を最適化することで,Sn析出抑制とドーパント活性化の両立を実証し,高Sn組成Ge1-xSnxのデバイスプロセス実現に向けた知見を示す.
