Presentation Information

[9a-A11-5]Long-term stability of WO3 synaptic devices through proton confinement

〇(M1)Yohito Tateishi1, Yoshihiro Furue1, Satoshi Hamasuna1, Takeaki Yajima1 (1.ISEE, Kyushu Univ.)

Keywords:

Neuromorphic device,Proton conduction,Tungsten oxide

本講演では,Pd/WO₃/Pt積層型二端子プロトンシナプス素子におけるAl₂O₃パッシベーションの効果について報告する。Al₂O₃膜厚を変化させ,大気暴露下での電流変化を評価した結果,膜厚増加により電流低下が抑制され,プロトン保持特性の向上が確認された。