Presentation Information

[16a-M_278-5]Growth of defective-wurtzite Al2S3 thin films and their electrical properties

〇Kosuke Ono1, Kazuki Shitara2, Hiroki Moriwake2,3, Shinya Kondo1, Tomoaki Yamada1,3 (1.Nagoya Univ., 2.JFCC, 3.Science Tokyo MDX)

Keywords:

Al2S3,defective wurtzite,Ferroelectric thin films

AlScNなどウルツ鉱型の強誘電体(WZF)が注目されている。これらは従来のペロブスカイト型強誘電体と比べて大きな残留分極値を持つ一方で、抗電界が大きく、その低減が研究されている。他方、欠陥ウルツ鉱 Al2S3が既往WZFと比較して、小さなスイッチング障壁を持ちながら強誘電性を発現するという理論計算結果が報告されている。これは「本質的なカチオン欠陥の導入」という新規の抗電界低減戦略の可能性を示している。実験的な強誘電性の発現及び特性評価を目指し、パルスレーザー堆積法を用いた同物質のエピタキシャル薄膜の作製および電気特性の評価を行った。