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[17a-M_135-10]Vertical Microfabrication of Si by CO2/SF6-based Deep Reactive Ion Etching

〇Mie Tohnishi1, Mina Sato1, Miho Fujimoto1, Akihiro Matsutani1 (1.Science Tokyo)

Keywords:

Deep Reactive Ion Etching,Vertical Microfabrication of Si

Deep-RIEによるSiドライエッチングでは,C4F8/SF6プラズマを用いたスイッチングプロセスが広く用いられている。我々は,カーボン膜もパッシベーション膜として十分に機能することから,地球温暖化係数(GWP)が約10,000のC4F8の代わりに,GWPが1で入手しやすいCO2を使用することを提案する。本研究では,CO2/SF6ベースのDeep-RIEによるSiの垂直エッチングの実証と,エッチング側壁のパッシベーション膜の化学組成のXPS分析の結果などについて報告する。