Presentation Information
[18a-PA1-10]High-precision automated analysis of photoelectron yield spectroscopy spectra based on information criteria and shifted log-log plot linearization
〇Shinjiro Yagyu1, Takahiro Nagata1, Takeshi Yasuda1, Yoshiyuki Nakajima2 (1.NIMS, 2.Rikenkeiki)
Keywords:
Photoelectron Yield Spectroscopy,information criteria,log-log plot
マテリアルズ・インフォマティクスと実験自動化の進展で、PYSの高精度自動解析が必要となり、従来のPW‑ROI法や1/n法のR²依存・整数指数制限を克服するフレームワークを提案する。元データ空間のMAEを用いたAICと、バックグラウンドと非整数指数を推定する3LS‑AIC法を開発した。統計的有意差がなければ「判断困難」と判定するサニティチェックを実装し、最適モデルの識別と解析信頼性を大幅に向上させた。