講演情報
[18a-PA1-10]情報量規準とシフト補正付両対数プロット直線化法に基づく光電子収量分光スペクトルの高精度自動解析
〇柳生 進二郎1、長田 貴弘1、安田 剛1、中島 嘉之2 (1.NIMS、2.理研計器)
キーワード:
光電子収量分光、情報量基準、両対数プロット
マテリアルズ・インフォマティクスと実験自動化の進展で、PYSの高精度自動解析が必要となり、従来のPW‑ROI法や1/n法のR²依存・整数指数制限を克服するフレームワークを提案する。元データ空間のMAEを用いたAICと、バックグラウンドと非整数指数を推定する3LS‑AIC法を開発した。統計的有意差がなければ「判断困難」と判定するサニティチェックを実装し、最適モデルの識別と解析信頼性を大幅に向上させた。
