[18p-S2_202-1~10] KS.2 Quantum Information Engineering Group

2:30 PM - 2:45 PM JST(5:30 AM - 5:45 AM UTC)Presentation by Applicant for JSAP Young Scientists Presentation Award

[18p-S2_202-3] RF Reflectometry in a Planar Silicon Quantum Dot toward Hole-Spin Readout

〇(M1)Kenta Ebisawa¹, Yusuke Sato¹, Ibad Sayyid¹, Ryutaro Matsuoka¹, Itaru Yanagi², Toshiyuki Mine², Ryuta Tsuchiya², Digh Hisamoto², Hiroyuki Mizuno², Shunsuke Ota¹, Raisei Mizokuchi¹, Tetsuo Kodera¹ (1.Science Tokyo, 2.R&D Group, Hitachi, Ltd)

Keywords:

silicon quantum dot,hole,RF reflectometry

シリコン量子ドット中の正孔スピンは、固有の強いスピン軌道相互作用により、全電気的な高速スピン操作が可能である。一方で、スピン緩和時間が短くなり、緩和時間内での高速な読み出しが課題である。本研究では、電荷計を集積した平面型p型シリコン量子ドットにおいて、RF反射測定による~1MHzの高帯域な電荷検出が可能な測定系を構築した。本手法は、RF反射測定による電荷検出が正孔スピンの高速読み出しに有効であることを示唆する。