講演情報
[18p-S2_202-3]正孔スピン読み出しに向けた平面型シリコン量子ドットにおけるRF反射測定
〇(M1)海老澤 賢太1、佐藤 優介1、Ibad Sayyid1、松岡 竜太郎1、柳 至2、峰 利之2、土屋 龍太2、久本 大2、水野 弘之2、太田 俊輔1、溝口 来成1、小寺 哲夫1 (1.科学大工、2.日立研開)
キーワード：
シリコン量子ドット、正孔、RF反射測定
シリコン量子ドット中の正孔スピンは、固有の強いスピン軌道相互作用により、全電気的な高速スピン操作が可能である。一方で、スピン緩和時間が短くなり、緩和時間内での高速な読み出しが課題である。本研究では、電荷計を集積した平面型p型シリコン量子ドットにおいて、RF反射測定による~1MHzの高帯域な電荷検出が可能な測定系を構築した。本手法は、RF反射測定による電荷検出が正孔スピンの高速読み出しに有効であることを示唆する。