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[18p-W9_324-10]Local Temperature Measurement on RC-IGBTs Using NV Centers in Nanodiamonds

〇Yuki Watanabe1, Naoyuki Kawabata1, Akira Kiyoi1, Fumiya Kamada2, Hiromu Nakashima2, Keisuke Oshimi2, Masazumi Fujiwara2 (1.Mitsubishi Electric Corp., 2.Okayama Univ.)

Keywords:

Nanodiamond,NV center,RC-IGBT

RC-IGBTは、IGBT領域と還流ダイオード(FWD)領域を1つのチップ内に形成したパワーデバイスである。動作中の局所的な温度上昇を抑制するようにIGBTとFWDはレイアウトされているが、実際の温度分布の高分解能測定は課題であった。本研究では蛍光ナノダイヤモンド(FND)をチップ上に塗布し、RC-IGBT通電中の温度変化を計測した。