講演情報

[1O11]SPring-8における1F2号機PCV内部調査で採取した放射性微粒子の放射光分析(1) 測定環境整備

*谷田 肇1、小林 徹1、小畠 雅明1、藤森 伸一1、岡本 芳浩1、岡根 哲夫1、矢板 毅1、佐藤 志彦2、鈴木 紳悟3、前田 宏冶3 (1. JAEA 物質科学研究センター、2. JAEA 廃炉環境国際共同研究センター、3. JAEA 照射燃料集合体試験施設)

キーワード:

福島第一原発由来放射性微粒子、放射光分析、マイクロビーム、同一視野同時計測、XAFS/XRD/XRF

福島第一原子力発電所(1F)2号機原子炉格納容器(PCV)内部調査で採取した放射性微粒子(以下、「放射性微粒子」という)に対する放射光を活用したX線非破壊分析を実施することを目的として、令和4年9月に核燃料物質の使用許可を取得し、令和5年9月より核燃料物質取り扱いの運用を開始した。これに合わせて、放射光X線をマイクロビームに集光するよるKirkpatrick-Baez(KB)ミラー、試料観察用顕微鏡、キネマティックマウントによる試料ホルダー、精密位置決めステージ、蛍光X線(XRF)検出器、透過法及び蛍光法のX線吸収(XAFS)測定システム、X線回折(XRD)用二次元検出器を整備し、35 keV以下の入射X線の領域において、1マイクロメートルのX線によるXRFの元素マッピングと、同一視野におけるXRF、XAFS、XRD同時測定を実現した。

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