[2F01-05] 測定実験

10:15 〜 10:30

[2F04] 炭素入射荷電粒子生成二重微分断面積の測定

*外岡 大弥¹、魚住 裕介¹、古田 稔将¹、古場 裕介³、山口 雄司² (1. 九大、2. JAEA、3. 放医研)

キーワード：

二重微分断面積、PHITS、重粒子線がん治療

重粒子線治療は他の治療に比べてがん細胞に集中的にダメージを与えることが可能である。特に炭素イオンを鋭いブラッグピークを持つことから有用な治療法として注目されている反面、発生した二次粒子による周囲の細胞の低線量被ばくが懸念される。 炭素と物質のフラグメンテーション反応によって生成される荷電粒子の二重微分断面積 (DDX) は、周囲の健常細胞に付与される線量を評価する上で非常に重要である。この実験はQSTのHIMAC棟で行われ、100MeVもしくは180MeV/u 炭素粒子線を使用し、放出される荷電粒子生成を測定した。 放出された荷電粒子は、シリコン半導体検出器 (SSD) と結晶シンチレーション検出器（CsI (Tl)） で構成されるスペクトロメーターで測定され、15°~40°の範囲でH~Cまでの粒子が確認された。