[C-3_C-4] 光エレクトロニクス／レーザ・量子エレクトロニクス

9:30 〜 9:45

[C-3_C-4-24] 超200 Gbaud 級InGaAs/InP 反転型フォトダイオードの長期信頼性

〇山田 友輝¹、平岡 郁恵¹、中島 史人¹ (1. NTT先端集積デバイス研)

キーワード：

フォトダイオード、超高速、信頼性

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