2026年電子情報通信学会総合大会
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10:15 〜 10:30
[C-6-02]
Cu/ZrN
x
/SiO
2
/Si積層構造におけるZrN
x
膜の熱的安定性
〇佐藤 勝
1
、武山 真弓
1
(1. 北見工業大学)
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キーワード:
LSI、配線
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