講演情報

[R1P-01]4D-STEMによる鉱物の微細組織評価と角閃石への適用

*徳田 慎太郎1、伊神 洋平1、下林 典正1,2、三宅 亮1 (1. 京都大・院理、2. 益富地学会館)

キーワード:

電子顕微鏡法、電子回折イメージング、4D-STEM、角閃石、プロト直閃石

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