放射線計測 2

17:30 〜 17:50

[1205-08-04] 疑似飛跡の誤検出低減に向けたDeep Learning機能による画像処理プログラムの開発

*織田 侑樹¹、橋詰 拓弥¹、嶋野 祐貴¹、北澤 創¹ (1. 長瀬ランダウア株式会社)

キーワード：

Deep Learning、CR-39