[S1] S1 界面ナノ構造と機能の材料科学 II

13:00 〜 13:40

[S1.5] [基調講演] 先端STEMイメージングによる材料界面の原子構造・電磁場解析

○関 岳人¹、柴田 直哉^1,2 (1. 東大、2. JFCC)

キーワード：

走査透過電子顕微鏡

近年、検出器の発展により、走査透過電子顕微鏡法（STEM）における情報取得の自由度は大きく拡張されている。さらに、磁場フリー電子顕微鏡の開発により、外部磁場による磁気構造の擾乱を抑えた磁性材料観察が可能となっている。本講演では、STEMイメージング法の開発と、その材料研究への応用について概説する。