講演情報
[P71]ニッケルにおける水素誘起空孔型欠陥の TEM 観察
○西添 健太1、三明 優衣1、植田 靖子2、荒河 一渡2,3 (1. 島根大学 自然科学研究科、2. 島根大学 次世代たたら協創センター(NEXTA)、3. 大阪大学 超高圧顕微鏡センター)
キーワード:
水素脆化、ニッケル、欠陥、透過型電子顕微鏡(TEM)、空孔
水素脆化の支配因子の一つは、水素により形成が促進される空孔およびその集合体だと考えられている。空孔集合体には複数の形態が存在するが、水素誘起空孔集合体の安定形態は必ずしも明らかではない。本研究では、空孔集合体をTEMで観察することにより、水素の有無が安定形態に及ぼす影響を調べた。
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