講演情報

[OP50]界面膜の曲げ弾性に着目した両連続マイクロエマルション、ラメラ液晶の構造評価

*西山 仁智1、鈴木 陽太1、新間 優子2、佐藤 高彰1 (1. 信州大学院総合理工研究科繊維学専攻化学・材料分野、2. 株式会社アルビオン)

キーワード:

両連続マイクロエマルション、ラメラ液晶、小角・広角X線散乱


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