講演情報
[17a-P01-63]VOx/VSe2 ヘテロ構造における抵抗変化メモリ動作の評価
〇(M2)中村 優太1、稲田 貢1、上野 啓司2、山本 真人1 (1.関西大院理工、2.埼玉大院理工)
キーワード:
抵抗変化メモリ、二次元材料、銀
コンピューティングインメモリへの応用が期待されている抵抗変化メモリ(ReRAM)は、動作電圧のばらつきが大きく、その低減が応用への課題となっている。そこで、我々は極薄自然酸化膜の形成が見込まれる 1T-VSe2 を用い、低電圧かつ安定動作可能なReRAMの作製を試みている。これまでにはVOx/VSe2 ヘテロ構造に対して銀(Ag)を電極に用いることで、動作電圧のばらつきが小さいReRAM動作を実現している。本研究ではVOx/VSe2 ReRAMの保持特性や繰り返し耐性を評価した。
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