[17p-D63-1~16] 7.2 電子ビーム応用

14:30 〜 14:45奨励賞エントリー

[17p-D63-7] SOIピクセル検出器を用いた単電子検出による電子線干渉実験

〇石田 裕一¹、石田 高史^1,2、桑原 真人^1,2、新井 康夫³、齋藤 晃^1,2 (1.名大院工、2.名大未来研、3.KEK)

キーワード：

透過型電子顕微鏡、SOIピクセル検出器